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共 6 个产品
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离心式粒度分析仪Partica CENTRIFUGE CN-300
通过离心进行高分辨率粒度分布测量。
CN-300 的测量范围为 10 nm - 40 μm,可施加高达 30,000g 的离心力,并使用温度控制为各种样品产生准确的测量结果。
根据客户反馈开发并改进现有和新的 HORIBA 技术,其结果是提供安全可靠的操作,同时也易于使用的分析仪。¥ 0.00立即购买
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纳米颗粒追踪分析仪ViewSizer 3000
采用多波长激光对外泌体、病毒等纳米材料样品中的所有颗粒进行完整、详细的分析。
外泌体、病毒和纳米颗粒都具有较宽的粒径分布,这使得传统的纳米颗粒追踪分析 (NTA)仪无法准确测量它们的粒径分布。ViewSizer 3000的三个激光器可同时工作,可在同一样品中收集各种尺寸的最准确的分布和浓度信息。如果某一颗粒来自某一激光的散射光信号太强使检测器达到饱和,软件会自动使用来自较低功率激光器的数据来确保获得最准确的尺寸和浓度信息。另一方面,当来自某一激光的散射光信号太弱而无法检测时,软件会使用更高功率激光的数据来准确跟踪颗粒。
交叉污染是所有分析中都存在的问题。简化清洁意味着彻底清洁。易于拆卸的样品池可以拆卸以进行快速、彻底的清洁,从而获得更好的数据。
摆脱传统 NTA 的限制
准确灵敏的分析,无交叉污染¥ 0.00立即购买
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纳米粒度及Zeta电位分析仪nanoPartica SZ-100V2
先进的分析仪器助您解开纳米世界的奥秘。只需单台设备就能表征纳米颗粒的三个参数:粒径、Zeta 电位和分子量。
纳米技术的研发是一个持续不断的过程,这是为了能够从原子和分子水平上控制物质的尺寸,从而获得性能更好的材料与产品。组件的小型化——即纳米级控制可以有效实现更快的测量速度、更好的设备性能以及更低的设备运行能耗。纳米技术在日常生活中的诸如食品、化妆品和生命科学等很多领域发挥着关键作用。
简单快捷的纳米颗粒多参数分析!
一台设备、三种功能,可对每个测量参数进行高灵敏度、高精度的分析。¥ 0.00立即购买
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激光粒度分析仪Partica mini LA-350
HORIBA LA-350 激光粒度分析仪是一款性能高、价格低、体积小巧的粒径分析仪器。LA-350广泛应用于浆料、矿物和造纸行业等多种领域。基于LA系列分析仪的先进光学设计,LA-350实现了高性能、易操作、低维护和高效益的优点。
LA-350体积小巧(297 mm x 420 mm),可以有效节省实验室空间。除此之外,LA-350巧妙的设计、高质量的制造确保仪器操作方便、测量范围宽 (0.1-1000 µm)和测量结果准确。¥ 0.00立即购买
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激光粒度分析仪Partica LA-960V2
LA-960V2 秉承 HORIBA 一贯的优异设计引领行业方向。其直观的软件、特有的附件和优异的性能将科学认知推向未知世界,是LA系列仪器的突破性演变。¥ 0.00立即购买
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微区X射线荧光分析仪XGT-9000
速度和灵活性兼备是微区 X 射线荧光光谱的发展方向
<15µm 超高强度X射线头,兼具高灵敏度和高空间分辨率
高分辨相机和多种照明模式成像双检测器!
荧光X射线检测器和透射X射线检测器
轻元素检测器使元素检测范围下延到C元素¥ 0.00立即购买